제품정보

제품설명

적용 :
주로 반도체 다이 표면의 금속 부위를 포함한 전체 제품의 금속 부위의 부식을 가속화
가하기 위해 고온, 고압, 고습도의 가혹한 상태에서 패키지 회로기판(Substrate) 등을
노출 시켜 견디는 제품의 능력을 평가하는 신뢰성 시험장치 입니다
(121℃, 100% RH, 2 atm 이상의 포화증기압에 168시간 동안 노출)
관련표준 :
HAST - IEC 60068-2-66 안정 상태의 내습성 시험 (불포화 증기 압력), KS F 2561
콘크리트 중의 철근의 부식 촉진 시험

▷ 자동 튜닝 기능이 내장된 디지털 PID 콘트롤러로 정밀한 온도 조절과 안전성과
신뢰성을 추구 마이크로 프로세서 제어방식의 전자동 방식을 채택
▷ 포화증기압의 정확한 온도 제어를 위하여 온도센서를 기존의 챔버 하부에서 탈피
하여 챔버 중앙에 센서 하우징을 설치 (DK-PCT45)
▷ 정전 시 자동 제어 복귀 기능, 콘트롤러 Key Lock 및 예약 운전 기능
▷ 수위경보 기능 : 챔버 내부 증류수 부족 시 발열체 보호를 위한 자동 수의센서 내장
하여 청각적 및 시각적 알람으로 경보와 전자식 압력 안전밸브 장착